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                    首頁 > 技術與支持 > 薄膜厚度測量儀的測量方法
                    薄膜厚度測量儀的測量方法
                    點擊次數:190 發布時間:2021-12-24
                      薄膜厚度測量儀可廣泛適用于薄膜及其他片狀材料的厚度測定,還可以檢測薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質和軟質材料厚度,是一款智能化效率高、實驗效率高、實驗準確度高的理想檢測設備。
                      采用激光測量位移差的方式,測量薄膜在一定張力下的表面平整度,并根據設定規則自動識別壞品。張力測量模塊由一個激光位移傳感器、驅動機構組成。通過可調張力張緊薄膜被測物后,驅動機構帶動位移傳感器橫向來回掃描,得到膜片橫向的高度差,根據轉換關系轉換成張力均勻性差異。
                      薄膜厚度測量儀的測量方法:
                      1、設置好的實驗參數、實驗次數等參數信息;
                      2、點擊開始試驗鍵,開始實驗;
                      3、不在測量頭與砧板間放置任何物體,點擊確定,測量頭自動落下后可與砧板直接接觸;
                      4、當測量頭再次抬起時,按照設備提示,將試樣放置在測量頭與砧板之間,點擊確定;
                      5、測量頭自動落到試樣表面進行測試,并顯示測試結果;
                      6、此后,可手動或由設備移動試樣,完成剩余測試;
                      7、保存并打印實驗結果。
                      實際使用過程中,由于環境溫度及濕度在不停變化,射線強度、射線感應器性能也隨時間緩慢漂移。要把該測量原理應用到工業場合,提高測量精度,需要在該模型中實時加入溫修補償機制。
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