電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、

        半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測(cè)試工具.

　　低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格

　　◥型號(hào)：OK-TS-49B

　　◥內(nèi)箱尺寸：40×35×30cm

　　◥高溫槽溫度范圍：RT-100℃

　　◥低溫槽濕度范圍：-40℃～-10℃

　　◥試驗(yàn)箱沖擊溫度：高溫:RT-100℃ ;低溫: -10℃～-40℃

　　◥升溫時(shí)間：RT-100℃約需15分鐘

　　◥降溫時(shí)間：RT～-40℃約需60分鐘

　　◥沖擊時(shí)間:0.1～999.9小時(shí),循環(huán)周期1～9999可設(shè)定.

　　◥沖擊恢復(fù)時(shí)間：高溫(100℃)沖擊30分鐘,低溫(-40℃)沖擊30分鐘;沖擊恢復(fù)時(shí)間:5分鐘以內(nèi).

　　◥試樣重量：1.5kg

　　◥結(jié)構(gòu)材質(zhì)：全機(jī)為SUS不銹鋼板霧面處理，內(nèi)箱為SUS#304鏡面不銹鋼

　　◥冷凍系統(tǒng)：復(fù)疊水冷式歐美進(jìn)口全封閉或半密閉式壓縮機(jī)組.

　　◥控制器：大型LED彩色觸控人機(jī)界面控制器or單顯LED觸控人機(jī)接口控制器.

　　◥安全保護(hù)裝置：無(wú)熔絲過載保護(hù)器，壓縮機(jī)過熱、過流、超壓、加熱干燒、箱內(nèi)超溫警報(bào)系統(tǒng).

　　◥配 件：測(cè)試孔(φ50×1只)，試料架(2組)

　　低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱特點(diǎn)

　　◥溫度高低試驗(yàn)箱(三箱)的三箱設(shè)備區(qū)分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試產(chǎn)品置于測(cè)試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫

        度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測(cè)試產(chǎn)品為靜態(tài)式。

　　◥采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。

　　◥沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，做冷熱沖擊測(cè)試。

　　◥高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，大時(shí)間可達(dá)999H，大循環(huán)周期可達(dá)9999次。

　　◥系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)衙擎或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。

　　◥冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式

　　溫度高低試驗(yàn)箱特性:

　　◥全新歐美之防爆把手,的造型設(shè)計(jì),外觀質(zhì)感高水準(zhǔn).

　　◥采用大型人機(jī)觸控對(duì)話式LED人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠.

　　◥沖擊方式采用風(fēng)格切換方式,將冷、熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的.

　　◥沖擊時(shí)間0.1～999.9小時(shí),循環(huán)周期1～9999次可設(shè)定.

　　◥可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)(手動(dòng))除霜.

　　◥運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線,異常及故障點(diǎn)顯示說明及排除方法.

　　◥歐美高效率復(fù)迭壓縮冷凍機(jī)組,運(yùn)轉(zhuǎn)噪音地，省能源之設(shè)備

　　◥采用PID自動(dòng)演算控制功能,溫度控制精度高

　　◥可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可選擇二槽或三槽式冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊.

　　◥可獨(dú)立擔(dān)當(dāng)高溫箱或低溫箱使用,一機(jī)三用.

　　◥采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保(HFC)制冷劑R404、R23.

　　溫度高低試驗(yàn)箱(三箱)執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

　　◥GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn)

　　◥GJB360.7溫度沖擊試驗(yàn)

　　◥GB/2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)